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如果代碼覆蓋率對(duì)您來說是個(gè)問題,請(qǐng)確保您對(duì)其進(jìn)行了正確測(cè)量,并從您運(yùn)行的所有測(cè)試中對(duì)其進(jìn)行了測(cè)量。利用自動(dòng)JUnit代碼覆蓋率測(cè)試用例生成來快速構(gòu)建和擴(kuò)展測(cè)試,以獲得有意義的、可維護(hù)的完整代碼覆蓋率。單元測(cè)試覆蓋率是確保您正確測(cè)量所有內(nèi)容的好方法。
我們創(chuàng)建了Parasoft Jtest單元測(cè)試助手來減輕單元測(cè)試的痛苦,因?yàn)槲覀兟犝f您討厭單元測(cè)試,但是我們知道您需要它來成功。
Parasoft Jtest的自動(dòng)單元測(cè)試創(chuàng)建技術(shù)消除了單元測(cè)試的障礙,使單元測(cè)試的日常工作自動(dòng)化,包括創(chuàng)建、隔離、模擬和維護(hù)。
今天,我們將返回簡(jiǎn)短的(但并非少用的!)JUnit教程之一,它有關(guān)如何設(shè)置、編寫和運(yùn)行JUnit測(cè)試的單元測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)。什么是JUnit,如何入門?
Java中的模擬是什么?只需單擊一下按鈕,即可自動(dòng)生成單元測(cè)試,包括所有模擬和驗(yàn)證。 好的單元測(cè)試是確保您的代碼在今天能正常工作,并在將來繼續(xù)有效的好方法。全面的測(cè)試套件具有良好的基于代碼和基于行為的覆蓋范圍,可以為組織節(jié)省大量時(shí)間和麻煩。但是,看到項(xiàng)目編寫的測(cè)試不夠多的情況并不少見。實(shí)際上,一些開發(fā)人員甚至一直在完全反對(duì)使用它們。
參數(shù)化測(cè)試是定義和運(yùn)行多個(gè)測(cè)試用例的好方法,它們之間的唯一區(qū)別是數(shù)據(jù)。在這里,我們看一下JUnit測(cè)試常用的三個(gè)不同框架。
單元測(cè)試是測(cè)試軟件的單個(gè)單元/組件的最佳實(shí)踐,但是對(duì)于Java開發(fā)人員而言,這可能既乏味又昂貴。很難通過人工斷言來測(cè)試每個(gè)單元的正確行為,并通過模擬來隔離每個(gè)方法,并且單元測(cè)試本身容易受到錯(cuò)誤和誤解的影響。為了改善這種情況,您可以使用運(yùn)行時(shí)分析工具來檢測(cè)數(shù)據(jù)和控制流,外部依存關(guān)系,并計(jì)算測(cè)試代碼覆蓋率。
通過使用Parasoft Jtest將測(cè)試影響分析用于單元測(cè)試,軟件開發(fā)團(tuán)隊(duì)可以集中精力進(jìn)行測(cè)試,并通過IDE或CI流程真正加速其開發(fā)流程。
為了實(shí)現(xiàn)單元測(cè)試的優(yōu)勢(shì),可以在單元測(cè)試執(zhí)行期間通過運(yùn)行時(shí)分析來觀察單元測(cè)試。單元測(cè)試執(zhí)行過程中的運(yùn)行時(shí)分析對(duì)于提高測(cè)試效率和效果至關(guān)重要。
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